【NEW】MM-L400Aレーザウエルドモニター
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比較判定を特長とするインプロセスの溶接モニターです。
「ワーク間のギャップ」「表面の汚れ」「フォーカスずれ」「溶接の穴空き」など、レーザ溶接の品質管理として様々な活用ができます。
初めてレーザ溶接機導入を検討中のお客様はもちろん、品質管理にお悩みの場合にも最適です。
▶ 特長
- ◆ 比較判定
良品データと不良品データとを比較判定可能。インラインでの良否判定に活用できます。※事前検証が必要です。
検証方法:板厚1.0mm銅板を重ねて溶接し、良品(ギャップなし)と不良品(ギャップあり)をエンベロープ機能で比較しました。
検証結果:放射光&可視光で「下限異常」と判定しました。
ギャップから溶融金属が抜けたことで溶接表面の熱量が低下し、波形の高さが下がったためと考えられます。
放射光の検出波形 - ◆ 3種類の光を測定可能
MM-L400Aでは、溶接箇所で発生する「放射光(近赤外光)」「反射光」「可視光(プラズマ)」という3種類の光を測定し、
それらの強度変化を比較することができます。従来機よりも測定対象が増えたことで、溶接の異常を見逃しにくくなりました。
- ◆ 使いやすい専用操作ソフト
付属の専用操作ソフト「MS-Viewer」で、より直感的に様々な設定や測定が可能です。
測定開始トリガーやセンサー感度(ゲイン)の調整、エンベロープの設定、測定波形の比較、さらにはI/Oの使用状況まで、
モニタリング装置を使い慣れていない方でも簡単に操作できます。
◆ 同軸/外付けの両方で測定可能専用の受光ユニットを当社製CCD付き出射ユニットおよびスキャナーヘッドに取付可能で、「外付け(外部受光ユニット)」、
「同軸取付(同軸受光ユニット)」、及びその両方を選択することができます。
◆ スキャナーヘッド対応出射ユニットへ取り付けるタイプの受光ユニットは測定エリアが数ミリの”点”での測定でしたが、
スキャナーヘッド対応の受光ユニットはfΘレンズの加工エリアに合わせて広範囲の測定ができるので”面”での測定が可能になりました。
当社ラインナップ(GWMシリーズ&CL-Hシリーズ)に対応しています。- ◆ 活用例(参考データ)
下記はAL材の重ねシーム溶接時の穴あき検出について検証したデータです。
標準タイプ(出射ユニット取付)とは異なり、飛散した金属が測定光路の外に飛び出すまでの時間が長く、波形異常として検出が容易です。 - 検証条件 材質:AL材 板厚:1.0mm 形態:重ね レーザ出力:800w
◆ 軽量コンパクトデザイン業界最小クラスの軽量コンパクト設計です。製造ラインへの組み込み時の設置スペースを削減します。
- ◆ 高分解能
最小分解能1μsでのモニタリングが可能。CW(連続)発振のみならずパルス発振にも対応します。
◆ Ethernetに対応遠隔でのリアルタイムモニタリングや、ライン毎のデータを一括管理し分析する、といった活用が可能。
◆ CE対応
※一部未対応の機器があります。詳細はお問い合わせ下さい。
▶ システムアップ例
- ロットNO.など読み取り、MM-L400Aで取得した製造日時、加工条件、判定結果などを紐づけることでトレーサビリティを実現します。
システムソリューションとして導入いただくことで、自動化による高い生産性と、MM-L400Aによる確かな品質管理を両立します。
機種名 | MM-L400A | |||
本体 | 寸法 | 486(W)×597(D)×107(H) mm | ||
最大質量 | 約22kg | |||
入力電源電圧 | 単相AC100~240V 50/60Hz | |||
消費電力 | 110W以下 | |||
外部制御インターフェース | 50pin 1.27mmピッチ標準コネクタ(メス) | |||
入力チャンネル | 最大6ch+外部アナログ入力2ch | |||
最小/最大測定時間(分解能) | 1000μs-4ms(1μs)/1000μs‐400s(1ms) | |||
判定機能 | エンベロープ(上下限)、積分判定(最大5ヶ所/1波形) | |||
動作周囲温度/湿度 | 温度:5~40℃/湿度:85%RH以下(結露なきこと) | |||
同軸受光ユニット |
対応機種 | 当社製CCDカメラ付き出射ユニット GWM-STD、GWM-STD2、GWM-Kシリーズ、CL-Hシリーズ |
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ガイド光 | 645~660nm(ガイド光がONの時は測定できません) | |||
検出波長 | 放射光(1300~1700nm)、反射光(1060~1080nm)、可視光(400~800nm) | |||
冷却方式 | 空冷 ※3 | |||
動作周囲温度/湿度 | 温度:5~40℃/湿度:85%RH以下(結露なきこと) | |||
外部受光ユニット | 対応機種 | 当社製出射ユニット ※2 | ||
ガイド光 | 645~660nm(ガイド光がONの時は測定できません) | |||
検出波長 | 放射光(1300~1700nm)、反射光(1060~1080nm)、可視光(400~800nm) | |||
冷却方式 | 空冷 ※3 | |||
動作周囲温度/湿度 | 温度:5~40℃/湿度:85%RH以下(結露なきこと) | |||
スキャナー受光ユニット | 対応機種 | GWM-STD、GWM-STD2、GWM-Kシリーズ、CL-Hシリーズ ※2、※4 | ||
ガイド光 | 使用不可 | |||
検出波長 | 放射光(1300~1700nm)、反射光(1060~1080nm)、可視光(400~800nm) | |||
冷却方式 | 空冷 ※3 | |||
動作周囲温度/湿度 | 温度:5~40℃/湿度:85%RH以下(結露なきこと) |
仕様及び外観は予告なく変更する場合がありますので、あらかじめご了承下さい。
※1:固定光学系、スキャナーヘッドどちらも共通仕様です。
※2:他社製品への取り付けについては、弊社までお問い合わせ下さい。
※3:受光ユニットが発熱する場合は、お客様にて水冷ジャケット等の冷却対策や反射光対策などを取る必要があります。
※4:別途、受光ユニット4個を固定するためのブラケットが必要となります。